椭偏光谱相关论文
碳化硅单晶衬底作为宽禁带半导体材料处于半导体产业链的前端,是制造器件的核心关键材料,在光电器件、功率器件和射频器件等领域具......
高压科学技术是凝聚态物理研究的重要组成部分。随着近年来金刚石对顶砧技术的不断改进,稳态高压记录的不断突破,高压研究领域获得......
氧化锌(ZnO)是Ⅱ-Ⅵ族宽禁带的半导体材料,在室温下的带隙约为3.3 eV,激子束缚能高达60meV。ZnO具有良好的光电性、透明导电性、气......
通过研究蓝宝石衬底分子束外延(MBE)生长GaN薄膜过程中原位椭偏光谱,发现常规蓝宝石衬底MBE生长GaN薄膜的位错缺陷主要起源于缓冲......
测量了几种不同组分的(Si)M/(Ge)N应变超晶格材料的椭偏光谱(2.0～5.0 eV),并得到了其介电函数谱;应用介电函数的临界点理论,研究了(......
用化学溶液沉积法, 以Al2O3为衬底在750℃温度下制备了锰钴镍铜Mn1.56Co(0.96-x)Ni0.48CuxO4系列薄膜.制备温度低于传统烧结工艺需......
21世纪以来,以金属氧化物为基础的微电子、光电子以及太阳能电池等电子器件已经渗透到了人们日常生活中的每一个细节当中。同时,相......
本文采用磁控溅射方法制备了TbFeCo/Si和Ag/TbFeCo/Si系列薄膜并对溅射工艺进行了详细研究,分析了TbFeCo薄膜的生长机理,还对其光......
该论文制备出了一系列的SrBaNbO(SBN)铁电电光薄膜材料;并用椭偏光谱、透射光谱法等光学检测方法对其进行了分析研究,得到了一些有......
掺杂稀土锰氧化物RAMnO(R：三价稀土元素，A：二价碱土元素)具有天然钙钛矿结构，是典型的电子强关联体系，由于其具有庞磁电阻效应和外场敏......
本文利用射频磁控溅射(RF sputtering)技术,通过调制氧氩比(OFR= [O2]/[Ar]).衬底温度(T)和溅射功率(P)在玻璃衬底上制备了一系列......
用椭偏光谱法测量了 ( 35ke V,1 .0× 1 0 18cm- 2 )和 ( 65ke V,1 .0× 1 0 18cm- 2 ) C+ 注入 Si形成的 Si C/Si异质结构 .应用......
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生......
用激光脉冲沉积技术生长、制备出了一系列不同真空度、不同衬底温度和不同激光脉冲能量的MgO薄膜。对生长、制备出的一系列MgO薄膜......
利用消光式椭圆偏振光谱法,在室温下可见光区对光电子材料镓铟磷的光学参数进行了测量,得到该材料的折射率和吸收系数随光子能量的......
偶氮金属镍 (Ni(azo) 2 )是一类具有很大潜力的可录光盘存储介质。为了准确地获取一种偶氮金属镍薄膜的光学常数 ,用旋涂法 (Spin-......
采用高度稀释的前驱体溶液在LaNiO3 (LNO)薄膜上沉积了Ba0 .9Sr0 .1TiO3 (BST)薄膜 .X 射线衍射分析表明BST薄膜呈高度的 (10 0 )......
用溶胶-凝胶技术在Si(100)衬底上制备了单层和渐变型多层的BaxSr(1-x)TiO3薄膜,其膜层组分分别为:Ba0.7Sr0.3TiO3, Ba0.8Sr0.2TiO3......
光学材料的亚表面损伤层( SSD )是激光光学领域内的研究热点之一。亚表面损伤层的存在将导致其表面薄膜特性发生变化，尤其是在高精......
椭偏技术是一种分析表面的光学方法,通过测量被测对象(样品)反射出的光线的偏振状态的变化情况来研究被测物质的性质。结合XRD和原......
用激光脉冲沉积技术生长、制备出了一系列不同真空度、不同衬底温度和不同激光脉冲能量的MgO薄膜.对生长、制备出的一系列MgO薄膜......
对椭圆偏振光谱中的主角测量条件进行了分析。当入射角等于主角θp时，椭偏参数的相位为90°，据此给出了当材料的介电函数已知时对θp......
采用真空蒸镀的方法在玻璃、石英和硅衬底上制备了Ｃ６０／７０薄膜样品，膜厚范围在１５０～７００ｎｍ．用自制的高精度、自动化光度法椭偏光谱仪在２３０～６００ｎｍ波谱范围内测量了......
用溶胶凝胶法在Ｓｉ（１００）衬底上制备了（Ｐｂ，Ｃａ）ＴｉＯ３铁电薄膜样品，测量了其在２．３～５．０ｅＶ能量范围的椭偏光谱，并获得样品的膜厚和在该区间的光学常数谱．实验发现Ｐｂ离子被Ｃａ离......
用溶胶 -凝胶技术制备了化学组分为 5 /5 0 /5 0的 PL ZT非晶薄膜 .测试其在 2 0 0～ 80 0 nm波长范围的光学透射谱 ,和 2 0 0～ 6 70 ......
将模拟退火 (SA)法应用于椭偏光谱数值反演 ,以达到同时得到介质薄膜的厚度和光学常数谱 ,并对 SA算法作了说明和改进 .作为应用实......
用椭偏光谱仪首次在光子能量为２．１～５．２ｅＶ的范围内，测量了不同热处理温度下Ｂａ０．９Ｓｒ０．１ＴｉＯ３（ＢＳＴ）薄膜的椭偏光谱，建立适当的拟合模型，并用Ｃａｕｃｈｙ色散模型描述ＢＳＴ薄膜的光学性质......
