测试向量相关论文
随着存储器的不断发展，实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大，有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制，因......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
逻辑功能测试是集成电路测试中的一个重要环节。电子产品逐渐趋向小型化发展,不可避免的增加了芯片功能测试的复杂度,为了提高芯片......
基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位......
现如今,随着互联网的普及,移动通信设备迅猛发展且逐渐成为人们日常生活中不可或缺的一部分。基带芯片作为移动通信设备的核心,其......
立方和问题是数论中一个经典的丢番图问题.它的目的是确定哪些非零整数n能够表示为两个立方数的和,即是否存在两个非零有理数a和b,......
复杂恶劣的太空环境使得航天器中的数字电路模块容易出现故障,且电路发生故障后人工维修极其困难甚至不可达。仿生电子阵列具备自......
随着机载电子设备在航空领域应用的不断拓展,功能日益强大的机载电子设备的复杂程度也在不断提高,这使得其测试难度也随之递增。可......
以一款视频图像定标器为研究对象,提出了一种适用于大规模数字集成电路的软件功能性验证平台,详细阐述了平台的结构、平台中测试向......
本文对几种可行的可测试性设计技术进行了分析,并对可测试性设计的支持环境进行了简要描述。据出了可测试性设计是新一代电子产品......
本文论述了DSP芯片测试技术发展趋势,介绍了一种适用于在自动测试设备上开发DSP芯片测试程序的方法,包括测试程序开发流程、测试接......
随着科学技术发展,嵌入式单片机正发挥着越来越重要的作用,广泛应用在生产、生活及科研领域。从实现数据采集、过程控制、模糊控制......
USB3.0是当前最热门的研究领域之一，其理论传输速率可达5.0Gbps。针对一款已设计的USB3.0设备控制器IP核，能否搭建有效的验证平台、......
介绍了一种基于VFP (VisualFoxPro)开发软件的雷达数字电路板故障诊断软件测试平台的测试向量生成和故障字典模块设计方法 ,重点讨......
随着信息化和数字化技术的发展，双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度，增加了测......
1.0简介rn当前,设计验证已经成为半导体芯片设计过程所面临的主要难题之一.如何确认芯片能够在相关应用中正确运行?除了需要写出尽......
为了实现数字芯片逻辑功能的测试,本文介绍了一种便携式IC逻辑功能测试仪的设计方法,包括系统组成、硬件设计和软件编制.本设计采......
针对测试向量转换失效的原因进行分析,研究了在转换前通过噪声消除与虚拟信号合成方式提高测试向量转换成功率的预处理技术.基于常......
描述在测试过程中不超过额定功率的集成电路测试问题 ,采用了基于Hammilton图的测试向量排序方法。此方法在不改变故障覆盖率情况......
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