【摘 要】
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本文在理论上提出了逆向统计模拟思想,并用以开发了NMOS数字集成电路统计模拟通用软件——STANMOS。应用该软件可定量得到工艺涨落及工艺干扰对电路性能的影响,分析电路性能
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本文在理论上提出了逆向统计模拟思想,并用以开发了NMOS数字集成电路统计模拟通用软件——STANMOS。应用该软件可定量得到工艺涨落及工艺干扰对电路性能的影响,分析电路性能的工艺灵敏度及成品率,确定主要影响电路性能一致性的工艺步骤。
In this paper, the theory of reverse statistical simulation is proposed, and used to develop NMOS digital integrated circuit simulation software STANMOS. By using this software, the influence of process fluctuation and process interference on circuit performance can be quantitatively obtained. The process sensitivity and yield of circuit performance can be analyzed, and the process steps that mainly affect the circuit performance consistency can be determined.
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