用探孔场发射显微镜研究单壁碳纳米管的场发射

• 作 者: 张兆祥 张耿民 金新喜 侯士敏 赵兴钰 顾镇南 刘惟敏 薛增泉
• 机 构: 北京大学信息科学技术学院电子学系,北京大学信息科学技术学院电子学系,北京大学信息科学技术学院电子学系,北京大学信息科学技术学院电子学系,北京大学信息科学技术学院电子学系,北京大学化学工程与分子学院,北
• 出 处: 电子学报
• 发表日期: 2003年11期
• 关键词: 场发射 场发射显微镜 单壁碳纳米管

探孔场发射显微镜可以观测样品的场发射图象 ,又能测量局域场发射电流和总场发射电流与电压的关系 .本文利用具有二维调节探孔位置的场发射显微镜装置测量了单壁碳纳米管场发射图象不同区域、不同吸附状态和经过热处理后的I V特性 .

The field emission microscope can observe the field emission image of the sample and also measure the relationship between the local field emission current and the total field emission current and voltage.In this paper, the field emission microscope with two- Carbon nanotube field emission images of different regions, different adsorption state and after heat treatment IV characteristics.