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本文论述的是在自动测试设备上对一款指纹探测芯片开发用于量产测试的测试程序的工作。
微电子技术正在以惊人的速度发展，其工艺水平已经达到了深亚微米级，在一个芯片上已经可以集成数百万乃至上千万只晶体管，工作速度可以达到Gb/s。这使得对芯片的测试工作变得越来越困难。与此同时，对芯片的测试工作，还面临着测试时间和测试成本所带来的压力。因此，对芯片测试工作的研究变得日益重要起来。
为了应对测试工作带来的压力，人们在芯片设计过程中就对芯片测试工作加以考虑，在自动测试设备的制造上也投入巨大精力外。除此之外，如何在尽量短的周期内，开发出高效、可靠的测试程序，也已经成为了测试工作研究中的一个重点。
本文介绍的测试工作的对象是一款指纹探测芯片。这是一个具有数/模混合信号的芯片。这款芯片的主要竞争力之一就是低成本，因此对这款芯片的测试程序开发始终围绕着降低成本这一目的展开。
降低测试成本，一方面需要缩短开发测试程序过程，在这方面本文介绍了并行测试的概念及在实际工作中的应用，从而缩短了测试程序开发周期；本文还介绍了Ⅵ等先进测试工具的应用，交互式文本文档的建立等，这些都帮助减小了测试程序开发的难度，加快测试程序开发的进程。
降低测试成本的另一方面就是降低测试程序执行的成本。在这方面，本文提出了用数字测试设备测试模拟电路的方案。这一方案的提出是从降低测试成本的角度考虑，也是建立在对被测芯片特点的了解和对测试理论的充分分析的基础上的。为了保证这个方案的可行性，本文中还采用了很多补偿性的测试方案，如IDDQ测试。
除此之外，本文还对测试程序设计、调试和实际应用中的很多问题进行了介绍，如连接性测试问题，输入管脚电流leakage测试问题，测试检查问题，DIB设计和Socket选择问题等。对于一些对测试工作有意义的问题，本文也做了思考并加以介绍，如测试程序分类问题，测试程序调试前和使用前的排序问题，测试程序优化问题，测试程序条件设定问题以及测试程序移植等问题。这些问题的研究和解决，对于保证测试程序的有效性、可靠性和实际应用中的效率等方面，都是十分有益而必要的。