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本文利用界面自由能理论解释形状生成和变化是很好的理论分析手段；微区内的纹理对分子的取向分布非常敏感，而分子取向的变化则是由各种结构缺陷(点缺陷和线缺陷)而引起的。对不同结构缺陷及其引起的分子排列和取向进行不同的组合，并与形状的能量分析相结合，建立界面分子的取向模型，利用光传播的电磁场理论，可以模拟出BAM的理论图像，将其与实验观察得到的BAM比较，可还原得到界面分子定位、排列和取向等信息。