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Thickness dependent optical properties of topological Bi2Se3

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：liuligen

【作 者】

：

Shang-Dong Yang Yu-Xiang Zheng Liao Yang Zhun-Hua Liu Wen-Jie Zhou Song-You Wang Rong-Jun Zhang Jing Li Liang-Yao Chen 

【机 构】

：

DepartmentofOpticalScienceandEngineering,FudanUniversity,ShanghaiEngineeringResearchCenterofUltra-Pr

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

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