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Applying spectroscopic ellipsometry in flat panel displays

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：hongshouwang123

【作 者】

：

Jianing Sun James Hilfiker John Woollam 

【机 构】

：

J.A.WoollamCo.,Inc,645MStreet,Suite102,Lincoln,NE68508,USA

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

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