论文部分内容阅读
典型涂层材料红外偏振方向辐射特征测量与建模方法研究
【机 构】
:
中国人民解放军陆军军官学院三系(偏振光成像探测技术安徽省重点实验室),合肥,230031
【出 处】
:
第二届全国偏振与椭偏测量研讨会
【发表日期】
:
2016年11期
其他文献
Investigation on optical properties of Zn-doped Ga2O3 thin films on sapphire by spectroscopic ellips
会议
Effect of Sb doping on morphological and optical properties of SnO2 thin films prepared by sol-gel s
会议