2. 您的位置
3. 首页
4. 会议论文
5. Study on the crystalline quality of Al0.45Ga0.55N by the spectroscopic ellipsometry

Study on the crystalline quality of Al0.45Ga0.55N by the spectroscopic ellipsometry

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：jieshoukode

【作 者】

：

Shuyu Lin Zili Wu Shuai Chen Xiong Zhang Lingyu Wan Zhe Chuan Feng 

【机 构】

：

Laboratoryofoptoelectronicmaterials&detectiontechnology,GuangxiKeyLaboratoryfortheRelativisticAstrop

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

Temperature induced structure and optical properties of HfO2 thin films by ellipsometry spectroscopy

会议

典型涂层材料红外偏振方向辐射特征测量与建模方法研究

会议

Spectroscopic ellipsometry studies on InN and In-rich InGaN thin films grown on sapphire by high pre

会议

Thickness dependent optical properties of topological Bi2Se3

会议

Anisotropic refractive index of nanopipe GaN layer

会议

自动旋光仪及自动旋光糖量计示值测量不确定度分析

会议

椭圆偏振光谱法在彩色电镀研究中的应用

会议

光谱椭偏仪测量原理及其在透明介质薄膜研究中的应用

会议

基于棱镜的椭偏法测量液体的复折射率研究

会议

Investigation on optical properties of CdSexTe1x by spectroscopic ellipsometry

会议