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来源 :中国物理学会2012年秋季学术会议 | 被引量 : [!--cite_num--]次 | 上传用户:[!--user--]
【摘 要】
:
随着微电子器件的不断微小化,晶体材料表面的存在对材料的电学磁学性能的影响受到日益广泛的关注,亦有人提出能否将晶体表面所特有的电磁学特性应用于未来的器件开发当中[1].
【作 者】
:
葛剑峰
高春雷
钱冬
刘灿华
贾金锋
【机 构】
:
上海市闵行区东川路800号上海交通大学物理系,200240
【出 处】
:
中国物理学会2012年秋季学术会议
【发表日期】
:
2012年期
【关键词】
:
STM
微区
四探针
晶体表面
输运测量系统
微电子器件
空间自由度
电输运特性
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