TPE-An薄膜STM研究的初步结果

来源 :中国物理学会2012年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ontrackfor19888
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众所周知,扫描隧道显微镜(STM)是研究材料表面微纳结构的强有力手段.近些年来,一些小组报道了关于单层或多层有机分子样品的STM图像和不同条件下扫描隧道谱变化的结果[1].材料表面结构的变化可导致能带的变化,进而可以影响材料的电学特性和光学特性.目前大部分测试样品采用金或者高定向热解石墨作为衬底.
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