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基于微机X荧光涂层测厚仪是根据现代的X射线荧光、电子和微机技术而设计的，它能够无损、快速和精确地测量多种工业产品和零件上的多种涂层厚度。该仪器系统由两个基本部分组成，测量头和基于微机的谱线分析—处理器。该仪器的计数累积采用基于微机计数器的结构，它是一种硬件—软件结合的计数—传送电路，即脉冲信息送到接口后，在软件参与下进行计数累积和数据传送。该仪器的应用程序包括硬件管理、数据获取、和数据处理程序，所有程序用汇编语言编写，固化于EPROM中，占用4KB，仪器一启动就可进入用户程序。（李大光摘）