测试和检验相关硕士博士期刊学术论文 - 皮皮文库

测试和检验相关论文

基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计

时序电路的测试生成非常复杂。时序电路的可测性设计对于指导电路设计及测试生成是十分重要的。基于对在测试生成过程中的难测故障......

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测试和检验快速测试冲突包含赋值非扫描可测性设计

改进的扫描森林测试结构

为了降低可测试性设计的面积开销和布线难度,提出了扫描森林结构的重组策略;为了避免故障屏蔽,提出了基于电路结构信息的异或树构......

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测试和检验扫描测试故障屏蔽

构造SoC级透明路径的0-1规划方法

为解决如何以低面积开销为系统芯片(SoC)构建透明路径测试访问机制从而有效进行测试复用的问题,提出了SoC级透明路径构建方法,将透......

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测试和检验系统芯片测试访问机制透明路径整数规划

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