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集成电路规模的不断增大使得生产测试变得越来越复杂，传统测试方法已经越来越不能满足现代测试的需要。因此可测性设计(DFT)作为集......
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[摘要]自从20世纪中叶以来，电子产业，尤其是半导体产业得到了飞快的发展。基于摩尔定律的描述，集成电路的集成度在不断上升，同时特征尺......
