工艺偏差相关论文
随着集成电路制造工艺进入到纳米尺度,工艺偏差对电路性能的影响越来越复杂。同时集成电路朝着更高的集成度和更大的电路规模方向......
随着存储器的集成度不断提高，以及工艺偏差带来的单元间不均一性，传统存储器单元错误率持续提高。新型存储器，特别是相变存储器和阻变......
本文主要研究并设计了一种用于射频前端电路的温度和工艺检测补偿技术。该温度和工艺检测补偿技术,分别包括了温度传感器和工艺检......
集成电路是信息技术的核心,在社会经济发展和国家安全领域都扮演着至关重要的角色。在经济全球化的驱动下,为了加快集成电路开发并......
存储墙问题是限制处理器性能提升的关键问题之一,末级缓存(Last Level Cache,LLC)作为片上系统中容量最大的缓存,是影响处理器性能......
近年来，功率集成电路得到了突飞猛进的发展，集成度越来越高。作为最常见的高压功率器件之一，VDMOS更多地集成在芯片里，而不仅仅以分立......
MEMS器件作为集成电路和微机械的结合,性能对制造工艺具有更大的依赖性,故对其设计制造引入可制造性设计(DFM)思想势在必行。可制......
基于对工艺偏差不敏感的温度补偿机制,提出了一种低工艺偏差的低功耗基准电流源.利用MOS管的阈值电压和片上电阻的温度系数在工艺......
硅集成电路的按比例缩小技术进入深亚微米(小于100纳米)阶段以后,出现了一系列难以解决的设计问题,给设计人员带来了难以想象的困......
本文采用HAZOP分析方法分析了导致超临界乙烯管道输送工艺偏差的原因及偏差可能导致的风险和后果，提出了采用适当的控制措施，使事故......
提出一种利用键合线电感设计VCO的方法,利用HFSS(High Frequency Structure Simulator)软件,建立电感仿真模型,在5 GHz以下与库模......
采用一种新的张弛振荡器,实现了一种不受工艺影响的低功耗片上温度传感器.将与温度成正比的电流输入到振荡器,产生与温度成正比的......
