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摘 要：本文详细的阐述了中职学校单片机教学的必要性和实践性，提出了新的实验教学方法，旨在培养学生的积极性和创新性，培养学生的项目工程意识，提高分析问题、解决问题的综合能力，提高学生的创新能力和综合素质。
关键词：单片机；实践教学；实验
随着电子技术的不断发展，家用电子产品逐渐智能化、数字化。中职学校电子专业学生现在不仅需要具备家用电器维修的技术，而且必须具备相应的单片机应用知识和技能。普及单片机知识，掌握单片机技术，对拓展学生知识面和增加就业能力，起到了积极有效的作用。
“单片机应用技术”是一门理论性和实践性都很强的课程，传统的实验教学形式单一、方法呆板、枯燥无味。实验课以教师为中心，学生在规定的时间内，按教师的方法，遵照实验指导书上规定的步骤做相同的实验。实验效果单一、学生积极性低、效率不高。要使学生真正掌握单片机知识，学会运用知识，必须通过亲身实践。通过实验教学，使学生进一步巩固和理解课堂上所学知识，掌握单片机应用技术，同时又培养学生的动手能力、创新能力和综合运用知识的能力，对造就综合型、创新型、复合型人才，具有重要的现实意义。
一、实验教学内容的改革
根据单片机课程的特点，将实验教学内容分为基础实验、模块电路实验和综合设计实验三个部分。
基础实验主要有硬件的认识、指令系统操作、汇编语言程序设计。考虑到这一部分知识理论性较强，学生的基础知识不够稳固，先进行初步的学习，这其中包括硬件知识的学习，汇编指令的理解和汇编语言编程的熟悉。要在模块电路的实验中进行跟踪讲授，使学生对基础即使更加深刻的理解。
模块电路实验是实验教学的重点。它包括硬件接线与软件编程两部分。学生在进行实验时，要根据实验任务完成硬件设计，搭建主体电路，画出电路原理图，编写程序，调试等实验环节。实验环节应充分发挥学生的自主性。
传统的单片机教学中，实验内容通常是理论知识的验证，很少有应用理论知识去解决实际问题的综合设计性实验。综合设计实验旨在帮助学生全面掌握所学内容，提高综合运用所学知识解决实际问题的能力。安排的内容主要是简单电子产品的设计。在进行综合设计实验时，指导书只给出了任务、要求和原理性说明，学生必须根据实验的目的和要求，独立完成软硬件设计和调试，观察实验现象，分析实验结果，写出实验报告。
另外，要正确处理好三类实验关系。基础实验、模块电路实验是综合型实验的基础。必要的基本实验是不可缺少的，学生可以通过基本实验掌握单片机的基本原理。基本实验可安排在教学环节的前期，其目的在于在教学开始之初帮助学生熟悉单片机软硬件环境。综合设计实验是为了培养学生综合运用所学知识的能力，使学生受到更为实际、更加全面的科学研究训练。
二、精选实验内容
实验要适应不同层次学生的需要，内容的选取要做到典型的芯片都安排有相关的实验内容，将单纯的验证性实验逐步向综合应用实验和创新实验类型发展，增强学生的参与意识，提高学生的动手能力，增加以设计性、系统性为主的实验内容。
单片机实验既要进行硬件接线，又要编写程序，且程序的准确编写是实验成功的前提条件；有些实验，学生要在有限的时间内完成任务是不容易的。因此，编写实验步骤时，要精心设计，对程序比较复杂的实验，给出部分的程序，并将其中的关键语句删去或是用错误的语句来取代，由学生去完善。这样可以缩短学生编写程序的时间，又能使学生掌握其中的关键。重视思考分析題的设计，使学生通过完成思考分析题拓宽知识面、提高分析问题和解决问题的能力。
三、要求学生进行实验预习
实验预习是提高实验效果的一个重要环节。在每次实验完成后，就布置下一个实验的内容，并在上实验课时通过提问、检查预习报告等形式进行检查。学生通过预习并听了教师的讲授之后，在做实验时就能做到心中有数，实验操作的过程也比较容易实现，还能提出一些问题与指导教师探讨，效果较好。
四、开放实验室
开放实验室是由教师组织学生利用课余时间开展的教学活动，它是对课堂教学的补充和完善，是学生独立思考、亲自动手的实验环节，也是解决学时少与内容多这一矛盾的重要手段。指导教师可以结合课堂上的内容，提出一些设计性题目或学生自行设计实验题目与方案，由学生独立操作调试，最后写出实验报告及收获。基础好的同学得到了施展才能的机会，可以设计出颇有特色的实验方案，写出很好的实验报告；一般同学也会感到有压力，增强了实验的自觉性。
通过对单片机课程的实验教学进行改革，提高了学生的创新能力和综合素质，激发学生的学习积极性、主动性；使学生能够学到更多的知识，实际操作能力也得到了一定程度的提高。同时，也更新了教师知识，提高了教师的综合能力。
参考文献：
[1]胡汉才.单片机原理及其接口技术学习辅导与实践教程[M].北京:清华大学出版社,2004，（6）.
[2]唐炜.《单片机原理与应用》课程教学改革探讨[J].电气电子教学学报, 2002,24(3):21-23.
[3]朱月秀，尤佳.单片机实验教学改革的探索[J].实验室研究与探索, 2002,21(4):27-29.
[4]张晴，刘为.单片机实验教学改革[J].实验室研究与探索,2003,22(4):27-29.
关键词：单片机；实践教学；实验
随着电子技术的不断发展，家用电子产品逐渐智能化、数字化。中职学校电子专业学生现在不仅需要具备家用电器维修的技术，而且必须具备相应的单片机应用知识和技能。普及单片机知识，掌握单片机技术，对拓展学生知识面和增加就业能力，起到了积极有效的作用。
“单片机应用技术”是一门理论性和实践性都很强的课程，传统的实验教学形式单一、方法呆板、枯燥无味。实验课以教师为中心，学生在规定的时间内，按教师的方法，遵照实验指导书上规定的步骤做相同的实验。实验效果单一、学生积极性低、效率不高。要使学生真正掌握单片机知识，学会运用知识，必须通过亲身实践。通过实验教学，使学生进一步巩固和理解课堂上所学知识，掌握单片机应用技术，同时又培养学生的动手能力、创新能力和综合运用知识的能力，对造就综合型、创新型、复合型人才，具有重要的现实意义。
一、实验教学内容的改革
根据单片机课程的特点，将实验教学内容分为基础实验、模块电路实验和综合设计实验三个部分。
基础实验主要有硬件的认识、指令系统操作、汇编语言程序设计。考虑到这一部分知识理论性较强，学生的基础知识不够稳固，先进行初步的学习，这其中包括硬件知识的学习，汇编指令的理解和汇编语言编程的熟悉。要在模块电路的实验中进行跟踪讲授，使学生对基础即使更加深刻的理解。
模块电路实验是实验教学的重点。它包括硬件接线与软件编程两部分。学生在进行实验时，要根据实验任务完成硬件设计，搭建主体电路，画出电路原理图，编写程序，调试等实验环节。实验环节应充分发挥学生的自主性。
传统的单片机教学中，实验内容通常是理论知识的验证，很少有应用理论知识去解决实际问题的综合设计性实验。综合设计实验旨在帮助学生全面掌握所学内容，提高综合运用所学知识解决实际问题的能力。安排的内容主要是简单电子产品的设计。在进行综合设计实验时，指导书只给出了任务、要求和原理性说明，学生必须根据实验的目的和要求，独立完成软硬件设计和调试，观察实验现象，分析实验结果，写出实验报告。
另外，要正确处理好三类实验关系。基础实验、模块电路实验是综合型实验的基础。必要的基本实验是不可缺少的，学生可以通过基本实验掌握单片机的基本原理。基本实验可安排在教学环节的前期，其目的在于在教学开始之初帮助学生熟悉单片机软硬件环境。综合设计实验是为了培养学生综合运用所学知识的能力，使学生受到更为实际、更加全面的科学研究训练。
二、精选实验内容
实验要适应不同层次学生的需要，内容的选取要做到典型的芯片都安排有相关的实验内容，将单纯的验证性实验逐步向综合应用实验和创新实验类型发展，增强学生的参与意识，提高学生的动手能力，增加以设计性、系统性为主的实验内容。
单片机实验既要进行硬件接线，又要编写程序，且程序的准确编写是实验成功的前提条件；有些实验，学生要在有限的时间内完成任务是不容易的。因此，编写实验步骤时，要精心设计，对程序比较复杂的实验，给出部分的程序，并将其中的关键语句删去或是用错误的语句来取代，由学生去完善。这样可以缩短学生编写程序的时间，又能使学生掌握其中的关键。重视思考分析題的设计，使学生通过完成思考分析题拓宽知识面、提高分析问题和解决问题的能力。
三、要求学生进行实验预习
实验预习是提高实验效果的一个重要环节。在每次实验完成后，就布置下一个实验的内容，并在上实验课时通过提问、检查预习报告等形式进行检查。学生通过预习并听了教师的讲授之后，在做实验时就能做到心中有数，实验操作的过程也比较容易实现，还能提出一些问题与指导教师探讨，效果较好。
四、开放实验室
开放实验室是由教师组织学生利用课余时间开展的教学活动，它是对课堂教学的补充和完善，是学生独立思考、亲自动手的实验环节，也是解决学时少与内容多这一矛盾的重要手段。指导教师可以结合课堂上的内容，提出一些设计性题目或学生自行设计实验题目与方案，由学生独立操作调试，最后写出实验报告及收获。基础好的同学得到了施展才能的机会，可以设计出颇有特色的实验方案，写出很好的实验报告；一般同学也会感到有压力，增强了实验的自觉性。
通过对单片机课程的实验教学进行改革，提高了学生的创新能力和综合素质，激发学生的学习积极性、主动性；使学生能够学到更多的知识，实际操作能力也得到了一定程度的提高。同时，也更新了教师知识，提高了教师的综合能力。
参考文献：
[1]胡汉才.单片机原理及其接口技术学习辅导与实践教程[M].北京:清华大学出版社,2004，（6）.
[2]唐炜.《单片机原理与应用》课程教学改革探讨[J].电气电子教学学报, 2002,24(3):21-23.
[3]朱月秀，尤佳.单片机实验教学改革的探索[J].实验室研究与探索, 2002,21(4):27-29.
[4]张晴，刘为.单片机实验教学改革[J].实验室研究与探索,2003,22(4):27-29.