论文部分内容阅读
对传统的电容-电压（C-V）、电流-电压（I-V）测量方法和我们自建的表征方法测量得到的蓝光发光二极管（LED）正向特性的结果做了详细的对比分析，发现传统测量方法得到的电学参量是不够精确的。但是传统C-V方法得到的表观电容以及我们自建方法得到的结电容在大电压和低频率下都表现出了明显的负值，该实验结果与经典肖克莱理论相冲突。此外，我们精确地得到了负的结电容以及结电导随电压和频率变化的经验表达式。这将为半导体二极管的正向电学特性的理论研究提供实验基础。