α-Si∶H膜中反常瞬态响应的光谱影响

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测量夹心结构α-Si∶H膜的瞬态响应谱时,发现无论是在低的正向偏压还是在低的反向偏压下,起始部分都出现不正常的尖形脉冲,它的幅度随光波长的增长而减小。零场瞬态谱的研究表明,这种不正常的非传输部分来源于结区,它的升降特点决定于光照时的空间电荷限制光电流。从光电流幅值与光吸收系数的关系式,我们发展了一种确定光学隙的方法。 When measuring the transient response spectrum of the α-Si: H film of the sandwich structure, it was found that an abnormal spike pulse appeared in the initial part both at a low forward bias voltage and a low reverse bias voltage. The amplitude decreases as the wavelength of light increases. The research of zero-field transient spectrum shows that this abnormal non-transmission part originates from the junction region, and its rising and falling characteristics depend on the space charge-limited photocurrent during illumination. From the relationship between the photocurrent amplitude and the light absorption coefficient, we developed a method to determine the optical gap.
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