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采用磁过滤阴极真空弧法,以C2H2和N2混合气体为反应气体在单晶硅上沉积纳米neZrCN/a—C:H(N)复合膜,用X射线衍射(XRD)、扫描电镜的能谱仪(SEM—EDS)和X射线电子能谱(XPS)研究了薄膜的成分和结构.实验结果表明薄膜结构是由ZrCN品粒镶嵌在无定形碳和碳氮化合物基体中;膜中的化合键主要以Zr—C,C—C(sp^2)和C-C(sp^3)形式存在;随着混合气体流量的增加,薄膜的锆原子分数减小,而N和C的原子分数逐渐增大.