论文部分内容阅读
在非线性光学与技术领域，三阶非线性极化率x(3)的测定是重要课题。在众多的测量方法中，Z-扫描技术是利用非线性光学的振幅调制和空间相位调制的原理来测量材料的光学非线性系数。并以其单光束激发与探测功能于一体的简单性，可同时确定三阶非线性极化率实部与虚部的大小及其符号的方便性，以及高灵敏性，得以在非线性光学材料表征中广泛应用。Z-扫描技术是非常便捷的表征技术和非常有效的筛选工具。本论文工作主要集中在三个方面，主要内容如下：
1.简要介绍Z-扫描技术的应用原理，并将非线性光学材料的进展和非线性光学表征技术的发展相互结合，说明了Z-扫描技术独特的优点、广泛的适用性以及在材料、光电子、化学、生物等科学领域的重要性。
2.讨论了矩形激发光束的空间分布及其影响，主要研究了准一维狭缝光束在Z-扫描技术中的应用。发现准一维狭缝光束Z-扫描技术的优点与其激发光束的空间分布密切相关，最后对准一维狭缝光束Z-扫描做了改进。
3.探讨环带光束的空间分布及其影响。尝试了内外半径比例不同的各个环带光束对Z-扫描技术的影响，并对环带光束Z-扫描的可行性进行了详细的讨论。