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本文通过对目前国际上数字电路的各种可测性设计技术和方法的研究,介绍了相关可测试性技术的基本概念,并根据X-DSP的特点和其对调测试的具体需求,提出了包含边界扫描设计和全扫描内部测试技术在内的一整套可测性设计和调试方案.
低功耗型X-DSP中JTAG结构的设计与实现
【摘 要】
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本文通过对目前国际上数字电路的各种可测性设计技术和方法的研究,介绍了相关可测试性技术的基本概念,并根据X-DSP的特点和其对调测试的具体需求,提出了包含边界扫描设计和全扫描内部测试技术在内的一整套可测性设计和调试方案.
【机 构】
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国防科技大学计算机学院,湖南 长沙 410073
【出 处】
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第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)
【发表日期】
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2008年5期
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