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该文在介绍CMOS电路s-open故障产生的原因及测试方法的基础上，讨论了不同的开路故障对晶体管级电路行为的影响，提出了测试这些故障所遇到的问题，同时讨论了可能的解决方法。
CMOS电路开路故障可测性设计
【摘 要】
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该文在介绍CMOS电路s-open故障产生的原因及测试方法的基础上，讨论了不同的开路故障对晶体管级电路行为的影响，提出了测试这些故障所遇到的问题，同时讨论了可能的解决方法。
【机 构】
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北京力合电子公司
【出 处】
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第九届中国集成电路测试学术年会
【发表日期】
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1999年期
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