氮化硅陶瓷及其在陶瓷电热塞中的应用研究

来源 :1987年中国硅酸盐学会电工陶瓷第二次学术年会暨交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wozhixiangxiazai1
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利用透射电镜分析了采用LPCVD法生长的SiN〈,X〉膜的微观结构与薄膜应力之间的关系,首次报导了利用LPCVD方法生长的SiN〈,X〉膜中存在着微观的取向结构,并通过SiN〈,X〉的背腐蚀结果确定该结构与SiN〈,X〉膜的