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X射线荧光光谱仪压片法快速分析硅质耐火材料
X射线荧光光谱仪压片法快速分析硅质耐火材料
来源 :全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:samzy
【摘 要】
:
本文采用X射线荧光光谱仪快速测量硅质耐火材料(包括原料硅石及其制品)中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O共8种化学组成含量的全分析.利用粉末压片法来制取试
【作 者】
:
王芙云
宋霞
任国涛
【机 构】
:
洛阳耐火材料集团有限责任公司技术中心,洛阳,471039洛阳大学环化学院,洛阳,471000
【出 处】
:
全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会
【发表日期】
:
2005年10期
【关键词】
:
X射线荧光光谱仪
压片法
硅质耐火材料
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本文采用X射线荧光光谱仪快速测量硅质耐火材料(包括原料硅石及其制品)中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O共8种化学组成含量的全分析.利用粉末压片法来制取试样,利用标样系列制作工作曲线,并对仪器校正、试验条件进行选择.
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