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内建自测试是集成电路测试的一种重要方法,而测试向量产生策略是内建自测试最为关键的问题。文章研究了一种高效的算术逻辑部件测试向量产生策略。这种测试向量产生策略只需要较少的测试向量,就可以对所设计的算术逻辑部件实现100％的故障覆盖,具有很高的效率和较低的代价。
高效的ALU测试向量产生策略
【摘 要】
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内建自测试是集成电路测试的一种重要方法,而测试向量产生策略是内建自测试最为关键的问题。文章研究了一种高效的算术逻辑部件测试向量产生策略。这种测试向量产生策略只需
【机 构】
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国防科技大学计算机学院重点实验室 长沙 410073
【出 处】
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第十一届计算机工程与工艺全国学术年会
【发表日期】
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2007年期
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