元器件的质量与可靠性是电路质量与可靠性的关键和核心,可靠性的核心是预防故障,通过在设计阶段实施HALT,研制阶段实施HASS试验,能......

目的 探索军用装备极限边界条件考核试验方法.方法 引入HALT技术,在前期装备试验各类故障案例统计的基础上,选择装备上应用普遍和......

为了加快产品设计开发周期,尽早发现产品缺陷,快速验证产品性能,由此以高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test,缩写为HALT)......

通过分析现阶段高新技术武器装备的要求及特点,发现传统试验技术已不能很好的满足这种需求,为克服其不足,本文将研究一种新的试验......

随着我国科技的发展，电子产品的发展也越来越迅速，但是随着电子产品的元件越来越复杂，那么电子产品的可靠性问题也就越来越明显。例如......

简要介绍可靠性工程的产生及其重要性,然后在网络电子产品生命周期中的可靠性试验流程的基础上,重点阐述如何有效地设计和实施可靠......

本文阐述了在应用HALT&HASS方法时，对于两种不同试验设备的性能要求，描述了两种激励装置的控制模式的不同及其特点，并描述了加速度传......