簇测试相关论文
在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计......
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在 ,板中由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界......
