准确测定并控制材料中杂质元素含量是发挥高纯材料性能不可或缺的环节。辉光放电质谱法（GDMS）是准确、快速、高灵敏分析高纯材料中痕......

研究比较了应用不同金属粉末作为导电介质在测试高纯稀土氧化钇中杂质元素含量时的优劣,探索了样品制备（压片）和辉光放电质谱（GDMS）放......

GaN材料是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,在其单晶材料的研制过程中,掺杂剂Mg的含量对生长p型GaN有重要影响,所以对......

伽马能谱测井主要应用于自然伽马射线、脉冲中子测井中的散射伽马、俘获伽马射线测量，以确定地层元素种类与含量，来研究井剖面地层性......

采用辉光放电质谱法测定单晶硅中替位碳含量,通过优化仪器工作条件,得到最佳放电参数。利用低温傅里叶变换红外光谱法对呈梯度的四......

建立了激光剥蚀电感耦合等离子体质谱测定高纯金中Mg,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Zn,As,Se,Pd,Ag,Sn,Sb,Pb,Bi,Te 16种痕量元素的分析方法.测......

以硬石膏矿物标样中Ca相对于S的灵敏度因子为基准,将玻璃标样中主量和痕量元素相对于Ca的灵敏度因子转换成元素相对于S的灵敏度因......