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采用扫描电容显微镜分析了平面型PIN In0.52Al0.48As/In0.53Ga0.47As/ In0.52Al0.48As短波红外探测器盲元产生的原因, 利用半导体......
针对红外焦平面阵列探测器成像存在盲元的问题,从工程应用角度出发,提出了一种易于在硬件上实现的盲元检测与补偿方法。对红外图像......
中波或长波红外焦平面阵列有效像元率递减的变化趋势,必然是由制造工艺缺陷、特定的工作应力或环境应力引起的某种机理造成.根据红......
武汉高德红外股份有限公司成功研制了像元尺寸为12 μm×12μm的1280×1024大面阵碲镉汞中波红外焦平面探测器.在优化提升材料性能......
红外焦平面阵列中盲元簇的存在增加了系统盲元补偿算法的难度和复杂度.同时,基于算法处理的红外系统对盲元簇的要求更加严格,导致......
红外焦平面阵列中盲元的存在降低了红外图像的质量以及红外系统的性能。在红外焦平面阵列最终性能的测试评价中,盲元的判定主要有......
红外焦平面器件广泛应用于国防安全、空间探测、环境监测、工业控制等各个领域,但是由于量少价高的特点,可靠性成为其技术发展的主......
为提高盲元检测的准确性，分析了盲元的成因以及常用盲元检测法存在的问题，在此基础上提出了一种新的自适应盲元检测法：基于双参考源和......
红外焦平面阵列中盲元的存在降低了红外图像的质量以及红外系统的性能。在系统应用中可以使用算法对盲元进行补偿,但对于焦平面阵......
