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在20世纪90年代,一个较复杂的芯片包含几十万至几百万个晶体管,而现在一个芯片可以包含上百亿个晶体管。芯片日益增加的集成度和复......
学位
随着集成电路制造技术的快速发展,系统芯片(System on a Chip,SoC)逐渐成为现实。SoC将一个完整的系统集成在单个芯片上,从而缩小......
集成电路的发展是当代科技最引人注目的焦点之一，它的应用已深入到人类生活的方方面面，对集成电路可靠性的要求越来越高，特别是在航空......
近年来，集成电路遵循着著名的摩尔定律，其集成度越来越高，已从片上系统SoC(System on a Chip)发展到片上网络NoC（Network on a Chip）。V......
随着超大规模集成电路的不断发展,芯片的规模变大,结构变得更加复杂,对芯片进行测试时所需的测试数据量在不断增加,使得测试时芯片......
随着集成电路的快速发展,晶体管的尺寸越来越小,芯片开发者能够在芯片上使用的晶体管也越来越多,同时芯片的设计尺寸越来越小,其制......
集成电路(IC)工艺和设计方法的提高,在单个芯片上集成多个芯片实现更为复杂的功能成为可能,系统芯片(SOC)集成技术在这种背景下应......
随着信息化时代正在高速发展,电子设备的市场需求量不断攀升。集成电路(Integrated Circuit,IC)作为电子设备的核心,需求量也在与......
随着现代工业技术的不断发展,数字电路的集成度越来越高,系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)上集成的知识产权核(Intellectual Proper......
庞大的测试数据量对自动测试设备(ATE)的存储性能、I/O通道数和工作频率提出了更高的要求,同时增加了测试应用时间,提高了测试成本......
集成电路的规模逐渐增大,测试数据量也不断增多,这使得测试数据存储代价上升和测试应用时间延长,最终导致芯片测试成本增加。而如......
用户在使用带有芯片的设备时,希望芯片在尽可能小的情况下,提供尽可能多的功能,这就导致芯片的集成度过高,测试时单位面积上需要的......
随着国内外半导体行业的迅猛发展,芯片生产制造过程中芯片测试的重要性与日俱增,高效、低成本的测试方案和设备成了半导体行业中AT......
随着集成电路规模不断扩大,芯片上晶体管的集成度越来越高,芯片测试越来越困难,测试数据量越来越大,测试成本越来越高。如何提高测......
近几十年来,随着超大规模集成(VLSI)电路技术发展的突飞猛进,半导体芯片上晶体管的密度成指数倍增加,数字集成电路(IC)测试已然成......
随着电子制造业技术的不断进步,集成电路的规模和复杂度日益增加,功能也越来越多。这在给人们的生活带来很多便利的同时,却使得集......
随着集成电路的迅猛发展，工艺技术愈加完善，片上系统（SystemonaChip，SoC）得到十足发展。SoC以其较小的面积集成了强大的电路功能，满足了......
测试数据量的快速增长成为导致测试时间增加、制造成本提高的一个主要因素。为减少测试数据量,提出一种快速查找最佳有理渐近分数......
提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距......
