随着纳米技术的发展，以及IC设计和制造业技术的快速发展，高密度、高速、ASIC、SOC等新型芯片的不断涌现。基于传统的探针测试已经不......

随着待测芯片的集成度越来越高，单芯片多核设计、片上系统和叠层裸片技术等成为芯片设计的主流技术，JTAG已很难满足芯片设计对测试与......

随着芯片一体化进程的加速以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、测试、应用等方面。紧凑......

边界扫描技术（JTAG）已在集成电路的可测性设计与故障诊断领域被广泛使用了二十多年，并发挥着重要作用。针对如今测试时需要精简引脚并......

测试维护总线是机载计算机测试技术研究的难点和关键技术之一，简要介绍了测试维护总线（testandmaintenancebus）TM－BUS控制器的设计，重点......