对在 8 0～ 30 0K温度范围测量的Pb1-xGexTe(x =0 0 6 )薄膜透射谱采用Lorentz谐振子模型进行拟合得到折射率 .研究发现 :在其铁电......

在高真空中用热蒸发的方法沉积了碲锗铅（Pb_（1-x）Ge_xTe）薄膜。分析了基片表面状态（粗糙度、晶向、温度）对膜层结构和红外光学特性的影响......

用PVD 法在锗、硅基板上沉积Pb1-xGexTe 薄膜.研究基板表面态(不同抛光表面、不同的晶向)和基板温度对其膜的沉积速率、界面、结构......