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本文从实验和理论两方面讨论了Ｓｉ（Ｌｉ）探测器，前置放大器的噪声对Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的探测范围的影响，分析了我国最近Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、前置放大器的噪声情况，得出我国目前探测器系统的噪声技术可以实现Ｏ、Ｆ等轻元素的测量，并计算了要测量Ｃ、Ｎ元素时探测器系统的极限噪声值。同时分析了低能Ｘ射线对窗的透射情况，得出国产Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的窗必须减薄才能测量Ｃ、Ｎ、Ｏ元素。