Eu~(3+):Y_2SiO_5晶体透射光谱和荧光谱研究

• 作 者: 薛绍林 陈凌冰 谢黎明 赵有源 李富铭 张守都 王浩炳
• 机 构: 复旦大学物理系三束材料改性国家重点实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所
• 出 处: 光学学报
• 发表日期: 1999年04期
• 关键词: 透射光谱 Eu Y_2SiO_5 荧光谱 晶体场 格位 低激发态 激光激发 光谱数据 光子回波

在室温条件下，对Ｅｕ３＋Ｙ２ＳｉＯ５晶体的透射光谱和４５７．９ｎｍＡｒ＋激光激发荧光谱进行测量和研究。这些光谱表明，Ｅｕ３＋离子在Ｙ２ＳｉＯ５晶体中占据两种最低对称性Ｃ１格位。利用透射光谱和荧光谱对Ｅｕ３＋离子的最低激发态５Ｄ０的两种格位光谱进行了成功分离。实验发现，在５Ｄ０态两种格位谱的谱宽只有０．１ｎｍ左右，其峰间隔约为０．１８ｎｍ。另外，文中还测量了Ｅｕ３＋离子的基态７ＦＪ（Ｊ＝０，１，２，３，４）和较低激发态５Ｄ１，２，以及５Ｌ６的部分精细光谱数据