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通过实例分析，指出对于同一胚胎电子系统，当活动节点的数量一定时，活动节点阵列的行列结构不同会带来不同的可靠性；然后针对具有n×n阵列的胚胎电子系统，采用k-out—of-m可靠性模型，分别在行取消和细胞取消两种错误恢复策略下，从理论和实验上分析了不同行列结构对活动节点阵列可靠性的影响，并给出优化的活动节点阵列设计准则．