论文部分内容阅读
整数剩余类环上线性递归序列(简称环上序列)是一类重要的伪随机序列,在密码学中有广泛的应用.截取环上序列的部分比特序列得到的截位序列是其常见的应用形式.环上截位序列还原问题,即由截位序列还原整体序列,是环上序列安全性评估的重要研究课题.设m是奇素数或不同奇素数之积,f(x)是Z/(m)上的n次本原多项式,a是由f(x)生成的本原序列,若已知序列a的最低l比特序列,序列元素个数为d,如何还原整体序列?将问题转化为格上的最近向量的计算问题,进一步证明:对于截位比特个数大于等于2,截位序列元素个数d大于等