Gd5Ge2（Si2-xAlx）合金的结构和显微组织分析

• 作 者: 雷宇 罗广圣 辛勇 刘光华 周正有
• 机 构: 南昌大学材料科学与工程学院,南昌大学理学院,华东交通大学职业技术学院
• 出 处: 南昌大学学报(工科版)
• 发表日期: 2007年4期
• 关键词: 显微结构 居里温度 杂质相 差示扫描量热法 microstructure curie temperature impurity phase differe

利用金相显微镜、扫描电镜（SEM）、X射线衍射仪（XRD）及差示扫描量热（DSC）等方法对化合物Gd3Ge2（Si2-xAlx）（x=0，0．1，0．2，0．5，1．0）的结构和显微组织进行了研究。结果表明：随着Al替代Si量的增加，晶格常数（a、c）和晶胞体积（V）均增加。x=1．0时，杂质相明显出现，且主相、杂质相的居里温度会随着x含量的增加而增加。