【摘 要】
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结合原子力显微镜（AFM）测试方法,从形变的性质和大小角度评估磁头内置动态飞行高度（DFH）控制元件,结果表明,即使在长时间过流的情况下,磁头内置DFH控制元件的突起仍属于弹性形变,
【机 构】
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湖南大学电气与信息工程学院,98756部队电子教研室
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结合原子力显微镜（AFM）测试方法,从形变的性质和大小角度评估磁头内置动态飞行高度（DFH）控制元件,结果表明,即使在长时间过流的情况下,磁头内置DFH控制元件的突起仍属于弹性形变,未发生永久塑性形变;静止空气冷却条件下,磁头内置DFH控制元件的结构变形量与能量呈线性关系。采用脉冲式电场的破坏性测试方法,对磁头内置DFH控制元件进行过压击穿测试,测试结果表明,实际产品的击穿电压在安全区以外。论证了静止碟面加冷却膏法的可行性,进一步简化了磁头温升的实验过程。
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