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叙述一种用于测试大口径、长焦距光学系统杂光系数、渐晕系数、像面照度均匀性等光学参数的检测方法。
大口径、长焦距光学系统杂光系数、渐晕系数、像面照度均匀性等参数的测试
【摘 要】
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叙述一种用于测试大口径、长焦距光学系统杂光系数、渐晕系数、像面照度均匀性等光学参数的检测方法。
【机 构】
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中国科学院长春光学精密机械研究所
【出 处】
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应用光学
【发表日期】
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1998年5期
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