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这是一篇关于可与数字专用集成电路（ＡＳＩＣ）的设计结合在一起的边界扫描测试技术概念的综合性文章。本文包括了ＩＥＥＥ可测标准１１４９．１－可在设计、开发数字ＡＳＩＣ及系统的过程中实行的边界扫描测试技术－的特性及讨论。这些测试技术可以用于测试系统中的数字ＡＳＩＣ器件、装有器件的多层印刷电路板（ＰＣＢ）及多芯片模块（ＭＣＭ）。