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本文用循环伏安法、差分脉冲溶出伏安法研究了磺胺甲基异恶唑（ＳＭＺ）在Ｎａｆｉｏｎ修饰玻碳电极上的伏安特性，并且测定了复方新诺明片剂中ＳＭＺ的含量发现在０．０２ｍｏｌ／Ｌ ＨＣｌ底液中，ＳＭＺ在＋１．０５Ｖ（ｖｓ．Ａｇ／ＡｇＣｌ）处产生一灵敏而尖锐的氧化峰，峰电流在１×１０＾－６－４×１０＾－４ｍｏｌ／Ｌ范围内呈现良好的线性关系。其检测限为５×１０＾－８ｍｏｌ／Ｌ．Ｎａｆｉｏｎ修饰电极比未修饰的玻碳