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高浓度胞外K＋会引起神经元的去极化、谷氨酸释放、甚至细胞死亡。为研究高浓度K＋对在体神经元的影响，采用微机电系统（ MEMS）方法制作了一种植入式微电极阵列（ MEA），其上包含形状、位置固定的电化学（50伊150μm）和电生理（直径为15μm）检测位点，可同时进行脑内神经递质谷氨酸、局部场电位信号（ LFP）双模检测。将这种MEA植入到大鼠纹状体后，给大鼠皮层施加高浓度K＋刺激，结果表明，高钾刺激增加了纹状体内谷氨酸浓度，同时抑制了神经电生理活动。这是首次采用双模MEA研究神经元在体死亡过程，结果验证了