VXI可编程开关及其在自动测试设备中的应用

来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mscspn
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引言 在ATE(自动测试设备)设计中,开关和开关系统往往是最容易被低估和忽视的部分。没有好的开关结构,将使系统中的仪器起不到应有的作用。实际上为了获得高的性能,真正的困难发生在:将被测装置连接到测试系统上时,如何获得透明的转接性能。总之,通道的质量是系统性能的一个重要因素。 Introduction In ATE designs, switching and switching systems tend to be the most easily underestimated and neglected parts. Without a good switch structure, the instrument in the system will not function properly. In fact, in order to achieve high performance, the real difficulty occurs in how to achieve transparent switching performance when connecting the device under test to the test system. In short, the quality of the channel is an important factor in system performance.
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