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为了分析不同绝缘缺陷所激发的局部放电类型，在GIS内模拟了四种典型缺陷模型，根据局放信号与相位之间的关系，捷取脉冲序列、幅值和相位信息，得到Hqmax-Phi、Hqmean-Phi及Hn-Phi等二维相位分布，然后利用统计参数偏斜度Sk、陡峭度Ku、峰值数量Pe及互相关因数CC等获取二维分布正负半周期的特征指纹。介绍一种新型Gustafson-Kessel（GK）模糊分类方法，根据特征指纹对四种缺陷进行分类，最后根据聚类有效性分析，验证了GK分类算法与模糊C-均值（FCM）分类方法都可达到较好的分类效果。