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用多功能内耗仪测量了氧离子导体La<,2>Mo<,2>O<,9>的低频内耗-温度谱,发现在400K附近出现一显著内耗峰,对该峰进行非线性拟合后,发现它是由两个典型的Debye型弛豫内耗峰叠加而成,对应模量的两个变化过程,其高温峰的弛预强度明显大于低温峰的弛预强度.根据Arrhenius关系,测得低温峰和高温峰的激活能分别为1.0eV和1.2eV,对应的弛预时间指数前因子分别为1.4×10<’16>s和0.8×10<’16>s.对于内耗峰的形成机制,我们认为是起因于氧离子在应力作用下的短程扩散.在La<,2>Mo<,2>O<,9>晶格内部有两种不同的氧位置:O(1)和O(2),由于其点阵位置不等效,它们所对应的弛豫过程具有不同的激活能.