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提出了时序电路的部分扫描法可测性设计中扫描链的构造方法，包括扫描链的选取、扫描链的排序、多链扫描设计三部分内容。采用组合等效电路的方法求测试向量，并用实例进行了验证，模拟结果表明，选取２０％￣４０％的触发器至扫描链，用较少的测试向量，可达到很理想的故障覆盖率，测试时间依赖于触发器在扫描链中的顺序以及扫描链的个数。