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通过固相反应法分别在不同的烧结温度制备了一类新型的SZ05 (Ce0.8Sm0.2O1.9和Zr2WP2O12质量比1:1)复合电解质材料,并通过Raman和XRD分析了烧结温度对SZ05复合电解质的相成分的影响。Raman和XRD分析结果表明:900℃及以上烧结的SZ05复合电解质的Raman和XRD谱出现了新的特征峰,说明发生了相变。800℃以下(包括800℃)烧结的SZ05复合电解质的Raman特征峰和XRD特征峰均由纯SDC和ZWP的特征峰组成,没有第三相特征峰,与未烧结前的SZ05复合材料特征峰