Yb2.75C60价带光电子能谱

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【摘要】

：

用角积分紫外光电子能谱技术测量了Yb2.75C60薄膜的价带电子态密度分布.相纯Yb2.75C60样品通过C1s芯态x射线电子谱峰的位移表征.结果表明Yb2.75C60是半导体,在费米能级处几乎

【作者】

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李宏年何少龙李海洋

【机构】

：

浙江大学物理系

【出处】

：

物理学报

【发表日期】

：

2004年期

【关键词】

：

Yb2.75C60 电子能谱电子态密度

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用角积分紫外光电子能谱技术测量了Yb2.75C60薄膜的价带电子态密度分布.相纯Yb2.75C60样品通过C1s芯态x射线电子谱峰的位移表征.结果表明Yb2.75C60是半导体,在费米能级处几乎没有电子态分布.Yb 6s电子态和C60LUMO能带的杂化效应不可忽略,有部分Yb 6s电子分布在Yb-C60杂化能带上.

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