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借助于透射电子显微镜(TEM)研究了Cu-Cr、Cu-Ti双层离子束混合。分别用200keVAr<sup>+</sup>和350keVXe<sup>+</sup>注入Cu-Cr、Cu-Ti双层薄膜,对其混合后的表面硬度和电阻进行了测量。发现Cu-Cr双层混合,在10<sup>17</sup>/cm<sup>2</sup>Ar<sup>+</sup>注入剂量时,TEM形貌图出现了沟纹,为一